亞亞科技利用NIR光線及特殊InGaAs相機偵測晶圓隱裂。

亞亞科技利用採用NIR光源穿透矽晶圓的技術,並搭配高解析度相機,可用來檢測太陽能電池生產過程中的隱裂(micro crack),檢測速度達一秒一片,並可搭配獨立的投片機(loader ) 和分類機(Sorter),進行大量檢測。亦可搭配離線分析系統,查詢歷史資料及統計分析,了解貨品的缺陷分佈,達到品質控管目的。